Test equipment

Test equipment

Industry: Semiconductors

Add a new term

Contributors in Test equipment

Become a Contributors

Test equipment

vika perusteella testi (DBT)

Semiconductors; Test equipment

Testaa kehityksen filosofiaa (mielenlaatu), joka alkaa tarkastelemalla fab: n vika tiheydet, circuit-asettelu ja luoda testi asettaa, joka paljastaa vikoja, jotka ovat todennäköisimmin vaikuttaa ...

suunnittelu testi (DFT)

Semiconductors; Test equipment

Suunnittelu testi on käytäntö lisätä laitteiston koukut mikropiirit helpottamiseksi, tehokas ja edullinen testaus.

paljon

Semiconductors; Test equipment

Laitteen tuotannossa ryhmä puolijohdekomponenttien yleensä alkaen samalla tuotantolinjalla käsitelty kokonaisuutena.

direct memory access (DMA)

Semiconductors; Test equipment

Osalta testi DMA viittaa arkkitehtuuri, joka mahdollistaa suoran kaukosäätimet ja tarkkailtavuustuloksia upotettu muistoja.

tason herkkä kartoittaa suunnittelu (LSSD)

Semiconductors; Test equipment

Tyyppi scan suunnittelu, joka käyttää master/slave-lukot, joka erilaisesta vaiheesta eristää jokainen skannaus-solmu.

ammua-antaa siivilöityä

Semiconductors; Test equipment

(1) Toimintoa, joka hämärtää kuvan yksityiskohtia. (2) A-piiri, joka vaimenee korkean taajuuden komponentteja analoginen signaali.

Sähkömagneettinen yhteensopivuus (EMC)

Semiconductors; Test equipment

(1) Elektronisten laitteiden kykyä toimia aiottuun sähkömagneettiseen ympäristöön ilman pilaantuminen johtuvat häiriöt. (2) Laitteiston kykyä toimia sähkömagneettisessa ympäristössään aiheuttamatta ...