Test equipment

Test equipment

Industry: Semiconductors

Add a new term

Contributors in Test equipment

Become a Contributors

Test equipment

desibeli)

Semiconductors; Test equipment

Logaritminen toimenpiteen kaksi signaalitasot suhde: dB = 20 log (Voltage1 / Voltage2) dB = 10 log (teho1 / Power2) vaihtoehdot desibeli (dB) käyttää spektrianalyysi ja verkko-analyysi ...

parametri tiedosto

Semiconductors; Test equipment

Tietokantasivun joukon, joka sisältää jännite-, virta- ja ajoitustietoja määritetyn testin jossakin tietyssä laitteessa.

Syöttöjännitteen taajuus converter (VFC)

Semiconductors; Test equipment

Laite, joka muuntaa analogisen tulojännite järjestyksessä digitaalisen pulssin taajuus, joka on verrannollinen tulojännitteestä.

digitaalinen analoginen-muunnin (DAC tai D/A-muunnin)

Semiconductors; Test equipment

Laite, joka muuntaa digitaaliset tiedot vastaavat analoginen jännite tai nykyisen.

puristin jännite

Semiconductors; Test equipment

Kiinteä jännite yhdessä jäseneltä diodi tai vastaava rajoittaa jännitteen retki siirtyminen tai nykyisen tarjonnan.

liiketoimintalogiikkaa testin (LBIST)

Semiconductors; Test equipment

Lomakkeen BIST suunnattu testaus satunnainen logiikka. Yleensä tämä tapahtuu PRPGs ruokinta scan logiikka ja lähdöt kytketään MISRs. Kaupallinen kaikenlaisen LBIST vaatia täysi tarkistus-infrastruktuu ...

harmoninen (HD)

Semiconductors; Test equipment

Analogiset piirit vääristymä, joka luo harmoniset muodossa (signaaleja, joiden taajuudet ovat kokonaisluku kerrannaisia tulosignaali). Lasketaan suhteena yhden harmonisen alkuperäisen signaalin ...