Test equipment

Test equipment

Industry: Semiconductors

Add a new term

Contributors in Test equipment

Become a Contributors

Test equipment

IDDQ

Semiconductors; Test equipment

Tasaisissa syöttövirran (IDD). Teoriassa staattinen CMOS logiikka pitäisi olla lähes nolla nykyinen, kun kello on pysähtynyt. Tämä menetelmä asettaa siru eri logiikan todetaan, pysäyttää kellon ja ...

multisite-toiminto

Semiconductors; Test equipment

Viittaa useita testauspaikan yksittäisen pää.

kukinta

Semiconductors; Test equipment

TV-kamera kevyellä-sensing elementtejä värikylläisyyttä. Blooming syyt leikkautumisen kameran suurin kirkkaus tasolla.

täysi tarkistus

Semiconductors; Test equipment

Skannaa arkkitehtuuri (täytäntöönpano) jossa kaikki muistin osat (jalkineet) ovat luettavan suunnittelussa.

osittainen skannaus

Semiconductors; Test equipment

Skannaa arkkitehtuuri (täytäntöönpano) Jos vain osa varastointi osia (jalkineet) ovat alaotsikoita.

peräkkäiset väri ja muisti (SECAM)

Semiconductors; Test equipment

Video standardi, jota käytetään Kiina, Venäjä ja Ranska.

Skannaa ketju

Semiconductors; Test equipment

Sarjoittainen organisaatio scan osia siten, että ketjun ensimmäinen osa on laite syöttää ja ketjun viimeinen osa on laitteen tuotoksen. Laitteiden käyttää yhden tai useita skannaus ketjut vangita ...